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第799章 元件耐受标准（第4页）

月

12

日下午

3

点，第一次全系统联调开始。控制室内，指示灯依次亮起，示波器上的波形稳定而规则，技术人员们脸上露出了欣慰的笑容。然而，就在系统运行到第

47

分钟时，一声轻微的

“啪”

声从主机箱传来，随即控制台屏幕突然变黑，警报声骤然响起。

“电源故障？”

技术员小李迅速断开总开关，打开主机箱检查。一股焦糊味扑面而来，他用镊子小心翼翼地取出烧毁的晶体管，外壳已经开裂，露出里面碳化的芯片，“是

3dk4，烧得很彻底。”

第一次事故被初步判定为元件质量问题，更换新的晶体管后，系统恢复了正常。但三天后的第二次联调中，同一位置的晶体管再次烧毁，这引起了技术负责人老张的警觉。他调取了两次烧毁时的测试数据，发现晶体管的工作电流和电压都在标准范围内，没有明显异常。

“把

1962

年的标准拿过来。”

老张对资料员说，手指在图纸上反复丈量，“这里的散热设计是不是有问题？”

标准文件中明确规定，功率型晶体管的安装必须保证散热片与环境温度的温差不超过

25c，而实际测量显示，该位置的散热片温度已经达到

58c，远超标准要求。

设计组的工程师们对此有不同意见：“现在用的是新型硅管，比

62

年的锗管耐温性好得多，标准是不是可以放宽一些？”

他们拿出晶体管手册，上面标注的最高结温是

150c，“就算散热差点，也不至于烧得这么快。”

争论还没结束，7

月

20

日，第三次事故发生了，这次烧毁的是另一批次的晶体管，位置也不同。恐慌开始在技术人员中蔓延，距离演习只剩一个月，系统却迟迟无法稳定运行，每个人的脸上都写满了焦虑。

基地指挥部紧急召开会议，作战部的王参谋带来了更坏的消息：“隔壁军区的同类设备也出现了类似问题，已经有两起了。”

他把一份通报放在桌上，“上级很重视，要求我们必须在一周内查明原因，否则演习计划可能要调整。”

排查工作连夜展开。技术人员分成三个小组，分别从元件质量、电路设计和使用环境三个方向入手。元件测试组把库存的晶体管全部开箱检查，按照

1962

年标准的要求，在不同温度、湿度条件下进行参数测试。当测试温度升到

50c时，问题出现了：部分晶体管的反向击穿电压明显下降，最低的甚至不到标准值的一半。

“这些管子的批次有问题。”

测试组组长拿着数据报告，声音因疲惫而沙哑，“我们查了生产记录，这几批是去年年底赶工期生产的，老化试验时间不够。”